芯片CP/FT测试工程师(J13842)

优缺点分析

角色解读

• 从测试工程师走向测试技术专家或测试团队负责人，主导芯片测试平台规划
• 也可向芯片设计验证或 DFT 方向发展
• 医疗影像设备自研芯片的成长期岗位，随产品放量经验价值提升
• 主导量产芯片的 CP/FT 测试导入：制定测试方案、评审测试单板、开发并发布量产测试程序
• 跟踪量产良率，优化测试程序与测试时间，输出良率分析报告
• 对接封测厂解决测试问题，并参与新项目测试平台的选型评估
• 模数电路基础与集成电路测试原理，3 年以上芯片测试经验
• 会用 C/C++ 做测试脚本与数据处理分析
• 能读懂电路图、理解 ATE 机台原理者优先，ADC/AFE/DAC 测试经验是强加分项

申请策略

• 了解联影自研芯片在影像设备中的应用与量产节奏
• 面试时准备一个良率问题定位到根因的完整案例
• 写明你负责过的芯片品类（尤其 ADC/AFE/DAC）与所用 ATE 机台型号
• 量化良率提升与测试时间优化成绩
• 展示测试脚本与数据处理能力（C/C++、Python）
• 复习集成电路测试原理与良率分析方法（如失效分布、Cpk）
• 熟悉主流 ATE 平台编程模型
• 补足模拟混合信号测试的专项知识

面试指南

• 项目题用「方案-导入-优化-量产」流程结构并量化结果
• 良率题用「数据分群-失效定位-晶圆/封装归因」框架
• 协作题强调规格书前置、数据说话、闭环复盘
• 介绍一个你主导的芯片量产测试导入项目
• 如何优化 CP/FT 测试时间并保证覆盖率
• 量产良率突然下降你会如何定位原因
• ADC 类芯片测试与纯数字芯片测试的差异
• 你与封测厂对接时如何处理测试标准分歧